CGS
Anal. Superficie
HR-TEM
ESEM
AFM
Diffrattometria
Microscopia
Preparativa




Servizi










CGS - Centro Grandi Strumenti  dell' Università di Cagliari

E' costituito presso l'Università di Cagliari il Centro Grandi Strumenti (CGS) . Il centro gestisce apparecchi di nuovissima generazione comprati con un progetto PON nel 2004.

  Analisi di Superficie XPS
Thetaprobe Thermo VG
XPS, ARXPS, SA-XPS
Imaging XPS
Analisi di superficie XPS, ARXPS, SAXPS. E' possibile analizzare tutti i campioni (metalli, ceramici, polimeri, applicazioni anche in campo ambientale e dei beni culturali). Sono possibili profili di composizione non distruttivi mediante ARXPS senza muovere il campione. Risoluzione laterale fino a 15 µm.

HR-TEM
JEM 2010 URP with GIF
80 - 200 kV
Microscopio elettronico a transmissione. Risoluzione immagine reticolo 0.14 nm, immagine di punto 0.194 nm.

  Microscopia ESEM
FEI Quanta 200
Modalità "ambientale"
Rilevatore EDX

Microscopio elettronico a scansione (ESEM) a pressione variabile (UV, pressione bassa, fino a pressione atmosferica). Risoluzione laterale sino a 4 nm. Analisi chimica elementare con rilevatore EDX.

AFM

Microscopia a forza atomica, risoluzione atomica in soluzioni ed in aria.


Campione di nano fibre organiche

Micro-Diffrattometro
D8 Discover Bruker
Diffratometro a media e alta risoluzione per film sottili.
Scansioni monodimensionali per la determinazione dello spessore, dei parametri reticolari del film, del grado di rilassamento. Mappe del reticolo reciproco per la determinazione della composizione e del grado di deformazione.

Microscopia ottica

Campo Vicino SNOM, Campo Lontano Confocale, Risoluzione Temporale sino a 2ps
Risoluzione Spettrale  UV-VIS-NIR, Risoluzione Spaziale sino a 100nm
Alta Eccitazione Ottica UV-VIS-NIR
Campioni di nano fibre organiche eccitate con luce UV

Preparativa

Crescita di strati sottili in atmosfera controllata (% ossigeno < 1ppm)
Crescita di ossidi con alto Gap, metallizzazione, controllo della crescita al nm